設(shè)備用途：

設(shè)備適用于儀器儀表材料、電工、電子產(chǎn)品、家用電器、汽摩配件、化工涂料、各種電子元器件及其他相關(guān)產(chǎn)品零部件在高溫、低溫的環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)。本試驗(yàn)設(shè)備主要用于對(duì)產(chǎn)品按照國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶自定要求，在低溫、高溫、高低溫循環(huán)條件下，對(duì)產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬測(cè)試，測(cè)試后，通過檢測(cè)，來判斷產(chǎn)品的性能，是否仍然能夠符合預(yù)定要求，以便于產(chǎn)品設(shè)計(jì)、改進(jìn)、鑒定及出廠檢驗(yàn)用。

設(shè)備符合標(biāo)準(zhǔn)：
GB/T2423.1-2001 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法
GB/T2423.2-2001 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法
GB2424.1-89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則
GB/T2324.2-1989. GB/T2423.1-1989. GB/T2423.4-1993等國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)