半導體分立器件測試儀簡介

S系列源表是普賽斯歷時多年打造的高精度、大動態范圍、數字觸摸的率先國產化的源表，集電壓、電流輸入輸出及測量等多種功能， 輸出電壓達300V， 小測試電流達100pA，支持四象限工作，因此能廣泛的應用于各種電氣特性測試中:半導體IC或元器件，功率器件，傳感器，有機材料與納米材料等特性測試和分析。

產品特點

5寸800*480觸摸顯示屏，全圖形化操作

內置強大的功能軟件，加速用戶完成測試，如LIV、PIV

源及測量的準確度為0.1%，分辨率5數位

四象限工作（源和肼），源及測量范圍：電流100pA~1A，電壓0.3mV~300V

豐富的掃描模式，支持線性掃描、指數掃描及用戶自定義掃描

支持USB存儲，一鍵導出測試報告

支持多種通訊方式，RS-232、GPIB及以太網

技術參數

半導體分立器件測試儀應用

l分立半導體器件特性測試，電阻、二極管、發光二極管、齊納二極管、PIN二極管、BJT三極管、MOSFET、SIC、GaN等器件；

l 能量與效率特性測試，LED/AMOLED、太陽能電池、電池、DC-DC轉換器等

l 傳感器特性測試，電阻率、霍爾效應等

l 有機材料特性測試，電子墨水、印刷電子技術等

l 納米材料特性測試，石墨烯、納米線等