CMI511/CMI760ETP孔銅面銅測厚儀探頭

這款高擴展性的臺式測厚儀系統能采用微電阻和電渦流兩種方法來達到對表面銅和穿孔內銅厚度準確和精確的測量。CMI 700臺式測量系統具有非常高的多功能性和可擴展性，對多種探頭的兼容使其滿足了包括表面銅、穿孔內銅和微孔內銅厚度的測量、以及孔內銅質量測試的多種應用需求。
同時CMI 760具有先進的統計功能用于測試數據的整理分析。

用于電子元器件，半導體，PCB，LED支架，五金電鍍，連接器等……多個行業表面鍍層厚度的測量。

CMI511/CMI760專用ETP孔銅探頭測試技術參數：
銅厚測量范圍：
化學銅：10μin–500μin (0.25μm–12.7μm)
電鍍銅：0.1 mil–6 mil (2.5μm–152μm)
線形銅可測試線寬范圍：8 mil–250 mil (203μm–6350μm)
準確度：±1% (±0.1μm)參考標準片
精確度：化學銅：標準差0.2 %；電鍍銅：標準差0.5 %
分辨率：0.01 mils≥1 mil, 0.001 mils <1 mil,
0.1μm≥10μm, 0.01μm < 10μm, 0.001μm < 1μm
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ETP孔銅探頭測試技術參數：
可測試 小孔直徑：35 mils (899μm)
測量厚度范圍：0.08–4.0 mils (1–102μm)
電渦流原理：遵守ASTM-E376-96標準的相關規定
準確度：±0.01 mil (0.25μm) < 1 mil (25μm)
精確度：1.2 mil（30μm）時，達到1.0%（實驗室情況下）
分辨率：0.01 mils (0.1μm)
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分辨率：0.01 mil(0.1μm)
顯示6位LCD數顯
測量單位um-mils可選
統計數據平均值、標準偏差、 值max、 小值min
接口232串口,打印并口
電源AC220
儀器尺寸290x270x140mm
儀器重量2.79kg